全面性发作的先兆研究

来自美国纽约大学兰贡医学中所心的Dugan博士科研团队积极开展了一项关于系统性高烧(Generalized epilepsy，GE)短暂性深入研究的新项目，改用简略的半结构式试音病因的模式，了解GE短暂性的发生频率。这一深入研究结果于近日发表在同型式一期Neurology杂志上。

本试验改用抛物线深入研究，GE病变来自高烧现象学/基因组原先(Epilepsy Phenome/Genome Project，EPGP)。这个问卷调查首先要求强直阵挛性高烧病变自己描述高烧年前的任何主观感受到或症状。改用自然语言(闭合)缺陷的模式，对病变描述的高烧年前主观感受到或症状展开系统性评估和验证。

本次深入研究中所，有789名自发性被确定为GE病变，其中所有530名确诊为强直阵挛性高烧。改用开放式缺陷的模式，搜集到112名（21.3%）有短暂性的强直阵挛性高烧的病变。分析封闭性问卷调查中所间体后，挖掘出有341名（64.3%）病变增加至少浮现过一种型式的短暂性。

短暂性一般而言见于局灶性高烧。本次挖掘出显然拥护了这一理论——视网膜和视网膜下起源的GE很强多变的的传播模式上。开放式缺陷和封闭式缺陷模式的差异显然同时反映了临床实践中所病史采集的不确定性。

开放式缺陷模式显然低估了类似型式短暂性的发病率，显然只识别了一部分GE短暂性。另外，自然语言缺陷模式才会负面影响自发性，显然导致主观感受到的放大。

查看信源地址